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凝露試驗(yàn)箱為了在電子元器件研發(fā)過(guò)程中，對(duì)裝配好電子元器件的線路板執(zhí)行揭露測(cè)試時(shí)，發(fā)現(xiàn)可能存在的功能性缺陷。
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